Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness / Horskyi, P. V. (2018)
Ukrainian

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001095449
  Journal of Thermoelectricity  В - 2017  /     Issue (2018, № 4)

Горський П. В.
Оцінка електричного та теплового контактних опорів та термоЕРС перехідного контактного шару термоелектричний матеріал-метал, зумовлених неплощинністю поверхні напівпровідника

Бібліографічний опис:
Горський П. В.  Оцінка електричного та теплового контактних опорів та термоЕРС перехідного контактного шару термоелектричний матеріал-метал, зумовлених неплощинністю поверхні напівпровідника. Термоелектрика. 2018. № 4. С. 5-13. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001095449

English  Journal of Thermoelectricity   /     Issue (2018, 4)

Horskyi P. V.
Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness

Cite:
Horskyi, P. V. (2018). Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness. Journal of Thermoelectricity, 4, 5-13. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001095449 [In Ukrainian].

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209