Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods / Drapak, S. I., Havryliuk, S. V., Khalavka, Yu. B., Fotii, V. D., Fochuk, P. M., Fediv, O. I. (2022)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377662
Ukrainian Journal of Physics   А - 2018 /  Issue (2022, Т. 67, № 9)
Драпак С. І., Гаврилюк С. В., Халавка Ю. Б., Фотій В. Д., Фочук П. М., Федів О. І.
Характеристика нанострукту-рованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії
Бібліографічний опис:
Драпак С. І., Гаврилюк С. В., Халавка Ю. Б., Фотій В. Д., Фочук П. М., Федів О. І. Характеристика нанострукту-рованих включень In6Se7 у шаруватих кристалах α-In2Se3 аналітичними методами рентгенівської дифрактометрії. Український фізичний журнал. 2022. Т. 67, № 9. С. 670-681. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377662 |  Ukrainian Journal of Physics / Issue (2022, 67 (9))
Drapak S. I., Havryliuk S. V., Khalavka Yu. B., Fotii V. D., Fochuk P. M., Fediv O. I.
Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods
Cite:
Drapak, S. I., Havryliuk, S. V., Khalavka, Yu. B., Fotii, V. D., Fochuk, P. M., Fediv, O. I. (2022). Characterization of nanostructured In6Se7 inclusions in layered α-In2Se3 crystals using analytical X-ray diffractometry methods. Ukrainian Journal of Physics, 67 (9), 670-681. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001377662 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF