Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів / Скорюкова Я. Г., Мартинюк Т. Б., Марков С. М., Кокушкін В. М. (2024)
UkrainianEnglish

 

Institute of Information Technologies of VNLU


+38 (044) 525-36-24
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209