Особливості виявлення еталонного зображення на напівтоновому зображенні за методом бінарних зрізів / Скорюкова Я. Г., Мартинюк Т. Б., Марков С. М., Кокушкін В. М. (2024)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна