Оцінка якості сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу із захисним наношаром оксиду цинку за методикою нечіткої логіки / Божко К. М., Качур Н. В., Маслов В. П. (2025)
UkrainianEnglish

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001646042
  Optoelectronics and Semiconductor Technique  Б - 2020  /     Issue (2025, Вип. 60)

Божко К. М., Качур Н. В., Маслов В. П.
Оцінка якості сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу із захисним наношаром оксиду цинку за методикою нечіткої логіки

Бібліографічний опис:
Божко К. М., Качур Н. В., Маслов В. П. Оцінка якості сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу із захисним наношаром оксиду цинку за методикою нечіткої логіки. Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка. 2025. Вип. 60. С. 109-118. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001646042

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209