Оцінка якості сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу із захисним наношаром оксиду цинку за методикою нечіткої логіки / Божко К. М., Качур Н. В., Маслов В. П. (2025)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001646042
  Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка  Б - 2020  /     Випуск (2025, Вип. 60)

Божко К. М., Качур Н. В., Маслов В. П.
Оцінка якості сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу із захисним наношаром оксиду цинку за методикою нечіткої логіки

Бібліографічний опис:
Божко К. М., Качур Н. В., Маслов В. П. Оцінка якості сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу із захисним наношаром оксиду цинку за методикою нечіткої логіки. Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка. 2025. Вип. 60. С. 109-118. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001646042

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна