Визначення товщини плазмон-осійних шарів фотометричним методом / Дорожинська Г. В., Григорчук М. О., Дорожинський Г. В. (2022)
UkrainianEnglish

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001649563
  Optoelectronics and Semiconductor Technique  Б - 2020  /     Issue (2022, Вип. 57)

Дорожинська Г. В., Григорчук М. О., Дорожинський Г. В.
Визначення товщини плазмон-осійних шарів фотометричним методом

Бібліографічний опис:
Дорожинська Г. В., Григорчук М. О., Дорожинський Г. В. Визначення товщини плазмон-осійних шарів фотометричним методом. Оптоелектроніка та напівпровідникова техніка. 2022. Вип. 57. С. 152-159. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001649563

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209