Structural changes in Cz-Si single crystals irradiated with high-energy electrons from data of high-resolution X-ray diffractometry / Fodchuk І. М., Dovganyuk V. V., Litvinchuk Т. V., Kladko V. P., Slobodian М. V., Gudymenko O. Yo., Swiatek Z. (2010)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна