X-ray study of dopant state in highly doped semiconductor single crystals / Shul'pina I. L., Kyutt R. N., Ratnikov V. V., Prokhorov I. A., Bezbakh I. Zh., Shcheglov M. P. (2011)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна