Низкотемпературное сканирующее устройство для микроволновой неразрушающей дефектоскопии / Жарков И. П., Иващенко А. Н., Руденко Э. М., Короташ И. В., Краковный А. А., Сафронов В. В., Ходунов В. А., Руденко А. Э. (2013)
Ukrainian

English  Science and innovation   /     Issue (2013, 9 (3))

translit Transliteration


Zharkov I. P., Ivashchenko A. N., Rudenko E. M., Korotash I. V., Krakovnyj A. A., Safronov V. V., Khodunov V. A., Rudenko A. E.
Nizkotemperaturnoe skanirujushchee ustrojstvo dlja mikrovolnovoj nerazrushajushchej defektoskopii


Cite:
Zharkov, I. P., Ivashchenko, A. N., Rudenko, E. M., Korotash, I. V., Krakovnyj, A. A., Safronov, V. V., Khodunov, V. A., Rudenko, A. E. (2013). Nizkotemperaturnoe skanirujushchee ustrojstvo dlja mikrovolnovoj nerazrushajushchej defektoskopii. Science and innovation, 9 (3), 13-18 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000435094 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна