Дисперсійна (фазова) природа структурної чутливости та інформативности трикристальної дифрактометрії дефектів і деформацій в йонно-імплантованих плівках / Скакунова О. С., Оліховський С. Й., Молодкін В. Б., Лень Є. Г., Кисловський Є. М., Решетник О. В., Владімірова Т. П., Кочелаб Є. В., Лізунов В. В., Лізунова С. В., Маківська В. Л., Толмачов М. Г., Скапа Л. М., Василик Я. В., Фузік К. В. (2015)
Ukrainian

English  Metallophysics and advanced technologies   /     Issue (2015, 37 (3))

Skakunova O. S., Olikhovskyi S. Y., Molodkin V. B., Len Ye. H., Kyslovskyi Ye. M., Reshetnyk O. V., Vladimirova T. P., Kochelab Ye. V., Lizunov V. V., Lizunova S. V., Makivska V. L., Tolmachov M. H., Skapa L. M., Vasylyk Ya. V., Fuzik K. V.
Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films


Cite:
Skakunova, O. S., Olikhovskyi, S. Y., Molodkin, V. B., Len, Ye. H., Kyslovskyi, Ye. M., Reshetnyk, O. V., Vladimirova, T. P., Kochelab, Ye. V., Lizunov, V. V., Lizunova, S. V., Makivska, V. L., Tolmachov, M. H., Skapa, L. M., Vasylyk, Ya. V., Fuzik, K. V. (2015). Dispersion (Phase) Nature of Structural Sensitivity and Informativity of Triple-Crystal Diffractometry of Defects and Strains within the Ion-Implanted Films. Metallophysics and advanced technologies, 37 (3), 409-430. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000551400 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна