Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface / Galiy P., Nenchuk T., Ciszewski A., Mazur P., Zuber S., Yarovets' I. (2015)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000551438
  Металлофизика и новейшие технологии     А - 2019  /     Випуск (2015, Т. 37, № 6)

Galiy P., Nenchuk T., Ciszewski A., Mazur P., Zuber S., Yarovets' I.
Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface

Cite:
Galiy, P., Nenchuk, T., Ciszewski, A., Mazur, P., Zuber, S., Yarovets, I. (2015). Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Low-Energy Electron Diffraction Investigations of GaTe Layered Crystal Cleavage Surface. Metallophysics and advanced technologies, 37 (6), 789-801. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000551438

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна