Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами / Рудяк Ю. А., Підгурський М. І. (2015)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000662974
  Фізико-хімічна механіка матеріалів      А - 2019  /     Випуск (2015, Т. 51, № 2)

Рудяк Ю. А., Підгурський М. І.
Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами

Бібліографічний опис:
Рудяк Ю. А., Підгурський М. І. Дослідження міцності багатошарових структур із прозорих діелектриків оптичними методами. Фізико-хімічна механіка матеріалів. 2015. Т. 51, № 2. С. 68-71. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000662974

English  Materials Science (Physicochemical mechanics of materials)   /     Issue (2015, 51 (2))

Rudiak Yu. A., Pidhurskyi M. I.
Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods

Cite:
Rudiak, Yu. A., Pidhurskyi, M. I. (2015). Investigation of strength of multi-layer structures of transparent dielectrics by optical methods. Materials Science (Physicochemical mechanics of materials), 51 (2), 68-71. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000662974 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна