Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures / Efremov A. A., Litovchenko V. G., Melnik V. P., Oberemok O. S., Popov V. G., Romanyuk B. M. (2015)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна