Methodological aspects of measuring the resistivity of contacts to high-resistance semiconductors / Slipokurov V. S., Dub M. N., Tkachenko A. K., Kudryk Ya. Ya. (2015)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000706499
  Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics       А - 2019  /     Випуск (2015, Vol. 18, № 2)

Slipokurov V. S., Dub M. N., Tkachenko A. K., Kudryk Ya. Ya.
Methodological aspects of measuring the resistivity of contacts to high-resistance semiconductors

Cite:
Slipokurov, V. S., Dub, M. N., Tkachenko, A. K., Kudryk, Ya. Ya. (2015). Methodological aspects of measuring the resistivity of contacts to high-resistance semiconductors. Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics , 18 (2), 144-146. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000706499

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна