Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films / Tetyorkin V. V., Sukach A. V., Boiko V. A., Tkachuk A. I. (2015)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714335
  Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics       А - 2019  /     Випуск (2015, Vol. 18, № 4)

Tetyorkin V. V., Sukach A. V., Boiko V. A., Tkachuk A. I.
Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films

Cite:
Tetyorkin, V. V., Sukach, A. V., Boiko, V. A., Tkachuk, A. I. (2015). Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films. Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics , 18 (4), 428-432. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714335

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна