Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix / Voitovych V. V., Rudenko R. M., Yuchymchuk V. O., Voitovych M. V., Krasko M. M., Kolosiuk A. G., Povarchuk V. Yu., Khachevich I. M., Rudenko M. P. (2016)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000723819
Ukrainian journal of physics   А - 2018 /  Випуск (2016, Vol. 61, № 11)
Voitovych V. V., Rudenko R. M., Yuchymchuk V. O., Voitovych M. V., Krasko M. M., Kolosiuk A. G., Povarchuk V. Yu., Khachevich I. M., Rudenko M. P.
Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix
Cite:
Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yuchymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. G., Povarchuk, V. Yu., Khachevich, I. M., Rudenko, M. P. (2016). Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix. Ukrainian journal of physics, 61 (11), 980-986. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000723819 | |
|
|
PDF