Вплив домішки олова на деградацію провідності в n-кремнії при електронному опроміненні / Красько М. М. (2013)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725452
  Український фізичний журнал      А - 2018  /     Випуск (2013, Т. 58, № 3)

Красько М. М.
Вплив домішки олова на деградацію провідності в n-кремнії при електронному опроміненні

Бібліографічний опис:
Красько М. М.  Вплив домішки олова на деградацію провідності в n-кремнії при електронному опроміненні. Український фізичний журнал. 2013. Т. 58, № 3. С. 245-250. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725452

English  Ukrainian Journal of Physics   /     Issue (2013, 58 (3))

Krasko M. M.
Influence of tin impurity on degradation of conductivity in electron-irradiated n-Si

Cite:
Krasko, M. M. (2013). Influence of tin impurity on degradation of conductivity in electron-irradiated n-Si. Ukrainian Journal of Physics, 58 (3), 245-250. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725452 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна