Исследование глубины поврежденного слоя в термоэлектрических материалах методом рентгеновской дифракционной интерферометрии / Шафранюк В. П. (2016)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000734318
  Термоэлектричество    В - 2017  /     Випуск (2016, № 4)

Шафранюк В. П.
Исследование глубины поврежденного слоя в термоэлектрических материалах методом рентгеновской дифракционной интерферометрии

Бібліографічний опис:
Шафранюк В. П.  Исследование глубины поврежденного слоя в термоэлектрических материалах методом рентгеновской дифракционной интерферометрии. Термоэлектричество. 2016. № 4. С. 63-71. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000734318

English  Journal of Thermoelectricity   /     Issue (2016, 4)

translit Transliteration

Shafranjuk V. P.
Issledovanie glubiny povrezhdennogo sloja v termoelektricheskikh materialakh metodom rentgenovskoj difraktsionnoj interferometrii

Cite:
Shafranjuk, V. P. (2016). Issledovanie glubiny povrezhdennogo sloja v termoelektricheskikh materialakh metodom rentgenovskoj difraktsionnoj interferometrii. Journal of Thermoelectricity, 4, 63-71 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000734318 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна