Сканирующий ионный гелиевый микроскоп / Петров Ю. В. (2012)
Ukrainian

English  Science and innovation   /     Issue (2012, 8 (2))

Petrov Ju. V.
Scanning Helium ion microscope


Cite:
Petrov, Ju. V. (2012). Scanning Helium ion microscope. Science and innovation, 8 (2), 23-25. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000740631 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна