Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / Gritcov S. S., Sorokin G. F., Shestacova T. V. (2018)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000952630
  Технология и конструирование в электронной аппаратуре   Б - 2020  /     Випуск (2018, № 5-6)

Gritcov S. S., Sorokin G. F., Shestacova T. V.
Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory

Cite:
Gritcov, S. S., Sorokin, G. F., Shestacova, T. V. (2018). Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory. Technology and design in electronic equipment, 5-6, 3-9. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000952630

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна