Концентрационные максимумы подвижности 2D-электронов при рассеянии на скоррелированных примесных ионах в тонких легированных слоях / Михеев В. М. (2019)
Ukrainian

English  Low Temperature Physics   /     Issue (2019, 45 (1))

Mikheev V. M.
Concentration maxima of the mobility of 2D electrons scattered by correlated impurity ions in thin doped layers


Cite:
Mikheev, V. M. (2019). Concentration maxima of the mobility of 2D electrons scattered by correlated impurity ions in thin doped layers. Low Temperature Physics, 45 (1), 140-145. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000969471 [In Russian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна