Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд) / Велещук В. П., Власенко О. І., Власенко З. К., Хміль Д. М., Камуз О. М., Борщ В. В. (2016)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001007744
Оптоэлектроника и полупроводниковая техника Б - 2020 /  Випуск (2016, Вып. 51)
Велещук В. П., Власенко О. І., Власенко З. К., Хміль Д. М., Камуз О. М., Борщ В. В.
Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд)
Бібліографічний опис:
Велещук В. П., Власенко О. І., Власенко З. К., Хміль Д. М., Камуз О. М., Борщ В. В. Неруйнівний контроль та діагностика світлодіодних структур на основі GаN за мікроплазмами (огляд). Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2016. Вып. 51. С. 31-42. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001007744 |  Optoelectronics and Semiconductor Technique / Issue (2016, 51)
Veleshchuk V. P., Vlasenko O. I., Vlasenko Z. K., Khmil D. M., Kamuz O. M., Borshch V. V.
Non-destructive control and diagnostics of led GaN structures by using microplasmas (Review)
Cite:
Veleshchuk, V. P., Vlasenko, O. I., Vlasenko, Z. K., Khmil, D. M., Kamuz, O. M., Borshch, V. V. (2016). Non-destructive control and diagnostics of led GaN structures by using microplasmas (Review). Optoelectronics and Semiconductor Technique, 51, 31-42. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001007744 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF