Компонентний аналіз спектрів фононного дихроїзму в одновісно деформованому кристалі кремнію / Матяш І. Є., Мінайлова І. А., Міщук О. М., Сердега Б. К. (2018)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001074356
  Оптоэлектроника и полупроводниковая техника  Б - 2020  /     Випуск (2018, Вып. 53)

Матяш І. Є., Мінайлова І. А., Міщук О. М., Сердега Б. К.
Компонентний аналіз спектрів фононного дихроїзму в одновісно деформованому кристалі кремнію

Бібліографічний опис:
Матяш І. Є., Мінайлова І. А., Міщук О. М., Сердега Б. К. Компонентний аналіз спектрів фононного дихроїзму в одновісно деформованому кристалі кремнію. Оптоэлектроника и полупроводниковая техника. 2018. Вып. 53. С. 273-281. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001074356

English  Optoelectronics and Semiconductor Technique   /     Issue (2018, 53)

Matiash I. Ye., Minailova I. A., Mishchuk O. M., Serdeha B. K.
Component analysis of phonon spectra dychroidism in uniaxially deformed silicon crystal

Cite:
Matiash, I. Ye., Minailova, I. A., Mishchuk, O. M., Serdeha, B. K. (2018). Component analysis of phonon spectra dychroidism in uniaxially deformed silicon crystal. Optoelectronics and Semiconductor Technique, 53, 273-281. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001074356 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна