Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film / Studenyak I. P., Kranjčec M., Izai V. Yu., Studenyak V. I., Pop M. M., Suslikov L. M. (2020)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001127978
  Український фізичний журнал      А - 2018  /     Випуск (2020, Т. 65, № 3)

Studenyak I. P., Kranjčec M., Izai V. Yu., Studenyak V. I., Pop M. M., Suslikov L. M.
Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film

Cite:
Studenyak, I. P., Kranjčec, M., Izai, V. Yu., Studenyak, V. I., Pop, M. M., Suslikov, L. M. (2020). Ellipsometric and spectrometric studies of (Ga0.2In0.8)2Se3 thin film. Ukrainian Journal of Physics, 65 (3), 229-233. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001127978

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна