A New Method for Generating Test Codes to Detect Multiple Stuck-at-Faults in Combinational Circuits. Part 2 / Rytsar B. Ye. (2025)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001615485
  Information technologies and systems   /     Випуск (2025, № 3)

Rytsar B. Ye.
A New Method for Generating Test Codes to Detect Multiple Stuck-at-Faults in Combinational Circuits. Part 2

Cite:
Rytsar, B. Ye. (2025). Information technologies and systems, 3, 3-29 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001615485

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна