Электронная микроскопия и прочность материалов. 2019 (25) АРХІВ (Всі випуски) 
 | Электронная микроскопия и прочность материалов. Серия, Физическое материаловедение, структура и свойства материалов
2019. Вип. 25 |
- Титул.
- Содержание.
- Борисовская К. М., Подрезов Ю. Н., Фирстов С. А. Критическая плотность дислокаций при их перестройке в полигонизационные стенки. - C. 3-7.
- Горбань В. Ф., Крапивка Н. А., Фирстов С. А., Куриленко Д. В. Роль энтальпии смешения в формировании физико-механических свойств твердорастворных высокоэнтропийных сплавов. - C. 8-16.
- Мільман Ю. В., Захарова Н. П., Єфімов М. О., Даніленко М. І., Самелюк А. І., Покляцький А. Г., Федорчук В. Є., Кисла Г. П. Структура та механічні властивості зварних з’єднань сплавів системи Al–Cr–Fe–Ti, що містять квазікристалічну фазу. - C. 17-25.
- Луговой Н. И., Слюняев В. Н., Бродниковский Н. П. Принцип аддитивности термической и атермической составляющих твердорастворного упрочнения в многокомпонентных сплавах. - C. 26-34.
- Безимянний Ю. Г., Козирацький Є. О., Колесников А. М., Комаров К. А., Назаренко В. А., Талько О. В. Особливості визначення характеристик пружності мікроламінатів за результатами вимірювання швидкості поширення пружних хвиль. - C. 35-42.
- Мазур П. В., Григорьєв О. М., Ведель Д. В., Мелах Л. М. Властивості кераміки ZrB2–SiC–СrB2, отриманої вакуумним спіканням. - C. 43-54.
- Brychevskyi M. M. Structural features of the total electrical conductivity dependence of 1Ce10ScSZ solid electrolyte. - C. 55-63.
- Карпец М. В., Даниленко Н. И., Олейник Г. С., Хижун О. Ю., Солонин Ю. М., Бочечка А. А., Силенко П. М., Томила Т. В., Котко А. В. Особенности структурно-фазовых превращений при высоких давлениях и температуре в системе ультрадисперсных порошков алмаза и турбостратного нитрида бора. - C. 64-77.
- Силенко П. М., Шлапак А. Н., Солонин Ю. М., Олейник Г. С., Котко А. В., Андрущенко Д. И., Томила Т. В. Влияние водорода на структурные характеристики нитевидных кристаллов SiC, получаемых методом парогазового синтеза. - C. 78-85.
- Вихідні дані.
|
|
