Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer / Sachenko, A. V., Kostylov, V. P., Lytovchenko, V. H., Popov, V. H., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasieka, V. M., Slusar, T. V., Kyrylova, S. I., Komarov, F. F. (2013)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725395
Ukrainian Journal of Physics   А - 2018 /  Issue (2013, Т. 58, № 2)
Саченко А. В., Костильов В. П., Литовченко В. Г., Попов В. Г., Романюк Б. М., Черненко В. В., Насєка В. М., Слусар Т. В., Кирилова С. І., Комаров Ф. Ф.
Рекомбінаційні характеристики пластин монокристалічного кремнію з приповерхневим порушеним шаром
Бібліографічний опис:
Саченко А. В., Костильов В. П., Литовченко В. Г., Попов В. Г., Романюк Б. М., Черненко В. В., Насєка В. М., Слусар Т. В., Кирилова С. І., Комаров Ф. Ф. Рекомбінаційні характеристики пластин монокристалічного кремнію з приповерхневим порушеним шаром. Український фізичний журнал. 2013. Т. 58, № 2. С. 142-150. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725395 |  Ukrainian Journal of Physics / Issue (2013, 58 (2))
Sachenko A. V., Kostylov V. P., Lytovchenko V. H., Popov V. H., Romaniuk B. M., Chernenko V. V., Nasieka V. M., Slusar T. V., Kyrylova S. I., Komarov F. F.
Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer
Cite:
Sachenko, A. V., Kostylov, V. P., Lytovchenko, V. H., Popov, V. H., Romaniuk, B. M., Chernenko, V. V., Nasieka, V. M., Slusar, T. V., Kyrylova, S. I., Komarov, F. F. (2013). Recombination characteristics of single-crystalline silicon wafers with a damaged near-surface layer. Ukrainian Journal of Physics, 58 (2), 142-150. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725395 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF