Nuclear microanalysis study of surface nanolayers in gold-silicon structures / Soroka, V. I., Lebed, S. O., Tolmachev, M. H., Kukharenko, O. H., Veselov, O. O. (2013)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725473 Ukrainian Journal of Physics А - 2018 / Issue (2013, Т. 58, № 4)
Сорока В. І., Лебедь С. О., Толмачев М. Г., Кухаренко О. Г., Веселов О. О. Дослідження методами ядерного мікроаналізу поверхневих наношарів структури золото−кремній
Бібліографічний опис: Сорока В. І., Лебедь С. О., Толмачев М. Г., Кухаренко О. Г., Веселов О. О. Дослідження методами ядерного мікроаналізу поверхневих наношарів структури золото−кремній. Український фізичний журнал. 2013. Т. 58, № 4. С. 311-317. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725473 | Ukrainian Journal of Physics / Issue (2013, 58 (4))
Soroka V. I., Lebed S. O., Tolmachev M. H., Kukharenko O. H., Veselov O. O. Nuclear microanalysis study of surface nanolayers in gold-silicon structures
Cite: Soroka, V. I., Lebed, S. O., Tolmachev, M. H., Kukharenko, O. H., Veselov, O. O. (2013). Nuclear microanalysis study of surface nanolayers in gold-silicon structures. Ukrainian Journal of Physics, 58 (4), 311-317. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725473 [In Ukrainian]. |
|
|