Electrophysical characteristics of near-surface layers in p-Si crystals with sputtered Al films and subjected to elastic deformation / Pavlyk, B. V., Kushlyk, M. O., Didyk, R. I., Shykoriak, Y. A., Slobodzian, D. P., Kulyk, B. Ya. (2013)
web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725574
Ukrainian Journal of Physics   А - 2018 /  Issue (2013, Т. 58, № 8)
Павлик Б. В., Кушлик М. О., Дідик Р. І., Шикоряк Й. А., Слободзян Д. П., Кулик Б. Я.
Електрофізичні характеристики приповерхневих шарів кристалів Si p-типу, з напиленими плівками Al, підданих пружній деформації
Бібліографічний опис:
Павлик Б. В., Кушлик М. О., Дідик Р. І., Шикоряк Й. А., Слободзян Д. П., Кулик Б. Я. Електрофізичні характеристики приповерхневих шарів кристалів Si p-типу, з напиленими плівками Al, підданих пружній деформації. Український фізичний журнал. 2013. Т. 58, № 8. С. 743-748. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725574 |  Ukrainian Journal of Physics / Issue (2013, 58 (8))
Pavlyk B. V., Kushlyk M. O., Didyk R. I., Shykoriak Y. A., Slobodzian D. P., Kulyk B. Ya.
Electrophysical characteristics of near-surface layers in p-Si crystals with sputtered Al films and subjected to elastic deformation
Cite:
Pavlyk, B. V., Kushlyk, M. O., Didyk, R. I., Shykoriak, Y. A., Slobodzian, D. P., Kulyk, B. Ya. (2013). Electrophysical characteristics of near-surface layers in p-Si crystals with sputtered Al films and subjected to elastic deformation. Ukrainian Journal of Physics, 58 (8), 743-748. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725574 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF