Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness / Gorskij, P. V. (2018)
Ukrainian

web address of the page http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001094146
  Journal of Thermoelectricity    В - 2017  /     Issue (2018, № 4)

Горский П. В.
Оценка электрического и теплового контактных сопротивлений и термоЭДС переходного контактного слоя "термоэлектрический материал-металл" обусловленных неплоскостностью поверхности полупроводника

Бібліографічний опис:
Горский П. В.  Оценка электрического и теплового контактных сопротивлений и термоЭДС переходного контактного слоя "термоэлектрический материал-металл" обусловленных неплоскостностью поверхности полупроводника. Термоэлектричество. 2018. № 4. С. 5-13. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001094146

English  Journal of Thermoelectricity   /     Issue (2018, 4)

Gorskij P. V.
Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness

Cite:
Gorskij, P. V. (2018). Imation of the electrical and thermal contact rsistances and thermoemf of "thermoelectric material-metal" transient contact layer due to semiconductor surface roughness. Journal of Thermoelectricity, 4, 5-13. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001094146 [In Russian].

 

Institute of Information Technologies of VNLU

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Ukraine, 03039, Kyiv, Holosiivskyi Ave, 3, room 209