Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії / Козирев Ю. М., Картель М. Т., Рубежанська М. Ю., Скляр В. К., Дмитрук Н. В., Тайхерт К., Хофер К. (2010)
інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000113146
Доповiдi Національної академії наук України  Б - 2019 /  Випуск (2010, № 1)
Козирев Ю. М., Картель М. Т., Рубежанська М. Ю., Скляр В. К., Дмитрук Н. В., Тайхерт К., Хофер К.
Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії
Бібліографічний опис:
Козирев Ю. М., Картель М. Т., Рубежанська М. Ю., Скляр В. К., Дмитрук Н. В., Тайхерт К., Хофер К. Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiOx/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії. Доповiдi Національної академії наук України. 2010. № 1. С. 71-76. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000113146 |  Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine / Issue (2010, 1)
 Transliteration
Kozyrev Yu. M., Kartel M. T., Rubezhanska M. Yu., Skliar V. K., Dmytruk N. V., Taikhert K., Khofer K.
Doslidzhennia system nanoklasteriv Si ta Ge na poverkhni SiOx/Si, oderzhanykh metodom molekuliarno-promenevoi epitaksii
Cite:
Kozyrev, Yu. M., Kartel, M. T., Rubezhanska, M. Yu., Skliar, V. K., Dmytruk, N. V., Taikhert, K., Khofer, K. (2010). Doslidzhennia system nanoklasteriv Si ta Ge na poverkhni SiOx/Si, oderzhanykh metodom molekuliarno-promenevoi epitaksii. Reports of the National Academy of Sciences of Ukraine , 1, 71-76 http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000113146 [In Ukrainian]. | |
|
|
PDF