Characterization of quaternary chalcogenide As-Ge-Te-Si thin films / Amer H. H., Elkordy M., Zien M., Dahshan A., Elshamy R. A. (2011)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна