Аutomated method for determining the etch pits density on crystallographic planes of large semiconductor crystals / Pekar G. S., Singaevsky A. A., Singaevsky A. F. (2016)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна