Вплив високотемпературного відпалу на структуру та край власного поглинання тонкоплівкового кремнію, легованого оловом / Руденко Р. М., Войтович В. В., Красько М. М., Колосюк А. Г., Крайчинський А. М., Юхимчук В. О., Макара В. А. (2013)
Ukrainian

English  Ukrainian Journal of Physics   /     Issue (2013, 58 (8))

Rudenko R. M., Voitovych V. V., Krasko M. M., Kolosiuk A. H., Kraichynskyi A. M., Yukhymchuk V. O., Makara V. A.
Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin


Cite:
Rudenko, R. M., Voitovych, V. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. H., Kraichynskyi, A. M., Yukhymchuk, V. O., Makara, V. A. (2013). Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin. Ukrainian Journal of Physics, 58 (8), 770-774. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000725577 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна