Вплив олова на структурні перетворення тонкоплівкової субоксидної матриці кремнію / Войтович В. В., Руденко Р. М., Юхимчук В. О., Войтович М. В., Красько М. М., Колосюк А. Г., Поварчук В. Ю., Хацевич І. М., Руденко М. П. (2016)
Ukrainian

English  Ukrainian Journal of Physics   /     Issue (2016, 61 (11))

Voitovych V. V., Rudenko R. M., Yukhymchuk V. O., Voitovych M. V., Krasko M. M., Kolosiuk A. H., Povarchuk V. Yu., Khatsevych I. M., Rudenko M. P.
Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix


Cite:
Voitovych, V. V., Rudenko, R. M., Yukhymchuk, V. O., Voitovych, M. V., Krasko, M. M., Kolosiuk, A. H., Povarchuk, V. Yu., Khatsevych, I. M., Rudenko, M. P. (2016). Effect of tin on structural transformations in the thin-film silicon suboxide matrix. Ukrainian Journal of Physics, 61 (11), 986-991. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000732704 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна