Вплив періодичного рельєфу кремнієвої підкладки на поляризацію фотолюмінесценції nc-Si–SiOx наноструктур / Михайловська К. В., Минько В. І., Індутний І. З., Шепелявий П. Є. (2017)
Ukrainian

English  Optoelectronics and Semiconductor Technique   /     Issue (2017, 52)

Mykhailovska K. V., Mynko V. I., Indutnyi I. Z., Shepeliavyi P. Ye.
The influence of the periodic relief of the silicon substrate on polarization of photoluminescence observed in nc-Si–SiOx nanostructures


Cite:
Mykhailovska, K. V., Mynko, V. I., Indutnyi, I. Z., Shepeliavyi, P. Ye. (2017). The influence of the periodic relief of the silicon substrate on polarization of photoluminescence observed in nc-Si–SiOx nanostructures. Optoelectronics and Semiconductor Technique, 52, 100-107. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001138334 [In Ukrainian].

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна