The charge trapping/emission processes in silicon nanocrystalline nonvolatile memory assisted by electric field and elevated temperatures / Ievtukh V. A., Ulyanov V. V., Nazarov A. N. (2016)
UkrainianEnglish

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ


+38 (044) 525-36-24
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна