Електроміграційна модель деградації металооксидних варисторних структур / Іванченко О. В., Тонкошкур О. С. (2012)
Ukrainian

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000724271
  Український фізичний журнал      А - 2018  /     Випуск (2012, Т. 57, № 3)

Іванченко О. В., Тонкошкур О. С.
Електроміграційна модель деградації металооксидних варисторних структур

Бібліографічний опис:
Іванченко О. В., Тонкошкур О. С. Електроміграційна модель деградації металооксидних варисторних структур. Український фізичний журнал. 2012. Т. 57, № 3. С. 331-339. URL: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000724271

English  Ukrainian Journal of Physics   /     Issue (2012, 57 (3))

Ivanchenko O. V., Tonkoshkur O. S.
Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures

Cite:
Ivanchenko, O. V., Tonkoshkur, O. S. (2012). Electromigration degradation model of metal oxide varistor structures. Ukrainian Journal of Physics, 57 (3), 331-339. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000724271 [In Ukrainian].

Thickness dependence of refractivity in wall-adjacent epitropic liquid crystal / Popovskii A. Yu., Mikhailenko V. I. (2014)
UkrainianEnglish

інтернет-адреса сторінки: http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000726226
  Український фізичний журнал      А - 2018  /     Випуск (2014, Т. 59, № 3)

Popovskii A. Yu., Mikhailenko V. I.
Thickness dependence of refractivity in wall-adjacent epitropic liquid crystal

Cite:
Popovskii, A. Yu., Mikhailenko, V. I. (2014). Thickness dependence of refractivity in wall-adjacent epitropic liquid crystal. Ukrainian Journal of Physics, 59 (3), 301-304. http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000726226

 

Інститут інформаційних технологій НБУВ

+38 (044) 525-36-24
libnas@nbuv.gov.ua
Голосіївський просп., 3, к. 209
м. Київ, 03039, Україна